葉面積指數(shù)測量儀這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準確和省力、省時、快捷方便的方法。

?葉面積指數(shù)測量儀可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結構的比較;可對農(nóng)田作物群體生長過程進行動態(tài)監(jiān)測適用于生態(tài)學野外植物群體動態(tài)監(jiān)測的研究與教學;

葉面積指數(shù)，亦稱葉面積系數(shù)。是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數(shù) 。它與植被的密度、結構(單層或復層)、樹木的生物學特性(分枝角、葉著生角、耐蔭性等)和環(huán)境條件(光照、水分、土壤營養(yǎng)狀況)有關，是表示植被利用光能狀況和冠層結構的一個綜合指標。

葉面積指數(shù)是反映作物群體大小的較好的動態(tài)指標。葉面積指數(shù)可以反映在一定的范圍內，作物的產(chǎn)量隨葉面積指數(shù)的增大而提高。當葉面積指數(shù)增加到一定的限度后，田間郁閉，光照不足，光合效率減弱，產(chǎn)量反而下降。蘋果園的大葉面積指數(shù)一般不超過5.能維持在3~4較為理想。盛果期的紅富士蘋果園，生長期畝枝量維持在10~12萬條之間，葉面積指數(shù)基本能達到較為適宜的指標。

原理與方法

采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數(shù)。

測量參數(shù)

葉面積指數(shù)

葉片平均傾角

散射輻射透過率

不同太陽高度角下的直射輻射透過率

不同太陽高度角下的消光系數(shù)

葉面積密度的方位分布

功能特點

非破壞性地測定冠層結構

可以測量冠層內外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬向接頭自動水平調整探頭，無需三角架

隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀測和長時間測量，尤其適合完成野外繁重的觀測任務

鏡頭角度：150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經(jīng)常不適合

孔隙測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜和不經(jīng)濟的)